| 品牌 | 泊勋 | 应用领域 | 综合 |
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| 光谱范围 | 200-2500nm | 时间窗口 | 5μs |
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| 仪器响应函数 | 300ps | 时间分辨率 | 7ps |
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| 空间分辨率 | 300nm | | |
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为什么选择稳态/瞬态一体化测试？
荧光光谱测试是研究材料发光性能的重要手段。稳态荧光用于表征材料的发光特性，获得发光峰位置、强度及谱线形貌等信息；时间分辨荧光用于分析荧光寿命及动力学过程，揭示材料激发态演化和载流子复合行为。
将稳态与瞬态荧光测试集成于同一平台，可实现发光性能与动力学特性的综合分析，为发光材料、半导体材料及光电器件研究提供完整、高效的测试方案。
产品概述
EM9001稳态/瞬态荧光光谱系统采用稳态、瞬态一体化设计，将稳态荧光光谱测试、时间分辨荧光测试及荧光寿命分析集成于同一平台。系统具备结构紧凑、稳定性高、模块化扩展等特点，可满足材料发光性能分析及载流子复合动力学研究需求。
配合专业数据采集及分析软件，可实现二维/三维光谱采集、荧光寿命拟合及动力学分析，并支持微区测试、成像模块及EL测试等功能扩展。
从光谱到寿命，从发光表征到动力学分析，为光电材料研究提供完整测试。
稳态荧光测试
固定激发波长，采集样品发射光谱，可获得发光峰位置、发光强度及半高宽等参数，为材料发光性能评价提供依据。
系统支持近红外荧光测试，可实现近红外发光材料、稀土发光材料及量子点等样品的发光分析。
时间分辨荧光（TRPL）
记录荧光衰减过程，通过指数拟合获得荧光寿命及复合动力学信息。
数据分析与动力学研究
二维光谱分析
快速获取稳态荧光光谱信息，对发光峰位置、峰宽及荧光强度进行分析，为材料发光特性评价提供依据。
三维数据分析
支持三维光谱数据采集与展示，可直观分析激发波长、发射波长及荧光强度之间的关系，为复杂发光体系研究提供丰富的数据支持。
荧光寿命拟合
支持单指数、双指数及多指数模型拟合，自动计算平均寿命及拟合参数，满足不同材料体系的荧光寿命分析需求。
动力学分析
结合稳态光谱与时间分辨荧光数据，对光生载流子的产生、弛豫及复合过程进行分析，为材料性能优化及器件设计提供实验依据。
从数据采集到动力学分析，提供完整的荧光测试数据处理流程。
产品型号：EM9001
更新时间：2026-10-08
厂商性质：生产厂家
访 问 量 ：1256
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