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二次谐波测试系统是一种基于非线性光学效应的精密测量装置。其核心工作原理是，利用超快飞秒激光器发射的基频脉冲激光与样品相互作用，产生频率加倍、波长减半的相干信号光。系统通常集成共聚焦显微镜以实现微区激发与信号收集，并通过精密的偏振控制组件（如半波片、偏振片）研究信号的偏振依赖性，从而获取材料的晶体对称性、晶格取向、堆垛方式等关键结构信息。
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