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Ø 产品概述: Regulus 80 和 Regulus 80V 搭载背照式 CCD 传感器,通过极深制冷技术,制冷温度可低于环境温度 105 ℃,有效抑制暗电流与热噪声,暗电流噪声表现低至 0.0015 e-/pixel/s。配合高动态范围(20000 @ 250 kHz)设计以及抗干涉条纹背照结构,大幅提升系统灵敏度与测量稳定性,可广泛应用于弱光探测、高精度光谱测量等专业领域。 |
Ø 核心优势: u -80 ℃ 深度制冷:超低温运行能力,有效抑制热噪声与暗电流干扰 u 低读出噪声:10 e- @ 250 kHz,实现高灵敏弱信号探测 u 极低暗电流:0.0015 e-/pixel/s @ -80 ℃,适用于长时间积分与超微弱信号采集 u 高分辨率:2040 × 60 像元阵列,提供更优空间与光谱分辨能力 u 高动态范围:20000 @ 250 kHz兼顾强弱信号下的稳定测量表现 |
Ø 应用领域: u 拉曼光谱测量 u 荧光光谱探测 u 量子点成像 |
Ø 技术规格:
型号 | Regulus 80 | Regulus 80V |
探测器类型 | 背照式 CCD | |
分辨率 | 2040 (H) × 500 (V) | |
单个像素尺寸 | 14 × 14 μm | |
感光区域 | 28.560 × 0.840 mm | |
光谱响应范围 | 200-1100 nm | 120-1100nm(V) |
峰值量子效率 | 80% @ 650 nm | 95%@200nm(V) |
满阱容量*1 | 300 ke- | |
读出噪声*2 | 10e- @ 250 kHz | |
动态范围*3 | 20000 @ 250 kHz | |
散热方式 | 风冷,制冷温度低于环境温度95 ℃ 水冷,制冷温度低于环境温度105 ℃ | |
暗电流噪声*4 | 0.0015 e-/pixel/s @ -80 ℃ | |
线性度 | > 97 % | |
数据位深 | 16 bit | |
读出方式 | 线合并读出/二维逐像素读出 | |
最小曝光时间 | 25 ms | |
数据接口 | USB 2.0 | |
外触发接口 | SMA:TTL / 0~3.3 V 电平 | |
光学接口 | 自由空间(可提供各类型单色仪转接件) | |
尺寸 | 140.0 × 140.0 × 230.2 mm | |
重量 | 6.65 kg | |
运行环境 | 温度0-40 ℃, 湿度 < 55 % | |
储存环境 | 温度0-40 ℃, 湿度 < 90 % | |
SDK | C,C++,C#,LabVIEW | |
软件 | trView | |
注:
1. 满阱容量:单个像素能够存储的最大电子数量,大满阱可有效防止图像过曝,直接影响动态范围和图像质量。
2. 读出噪声:信号读取过程中,读出电路引入到像素测量值的随机不确定性噪声,对信噪比与成像质量至关重要。
3. 动态范围:探测器满阱容量与读出噪声的比值,代表传感器可探测的信号跨度,高动态范围可实现优质成像。
4. 暗电流噪声:无光环境下,芯片自身与电路生成的基底噪声,受温度影响显著,直接限制整机动态范围。