LAD-365材料长余辉衰减监测系统 面向长余辉发光材料的性能测试与研发，采用 365 nm LED 脉冲激发、光电倍增管（PMT）探测及电信号采集技术，记录激发光关闭后材料余辉信号随时间的变化，获得余辉衰减曲线。

LAD-365 材料长余辉衰减监测系统

产品概述：

LAD-365 材料长余辉衰减监测系统面向长余辉发光材料的性能测试与研发，采用 365 nm LED 脉冲激发、光电倍增管（PMT）探测及电信号采集技术，记录激发光关闭后材料余辉信号随时间的变化，获得余辉衰减曲线。 系统集成激发控制、密闭暗室、光信号探测与数据采集功能，适用于长余辉发光材料的余辉特性表征、样品筛选及性能对比。

工作原理：

系统通过 365 nm LED 对样品进行定时激发。激发光关闭后，样品继续发出余辉，PMT 对余辉信号进行探测，采集设备记录信号随时间的变化，最终获得材料的余辉衰减曲线。

测试流程：

样品类型：

• 块体材料：长余辉陶瓷、晶片及其他固体发光材料

• 粉末材料：经适当制备后装入粉末样品槽的发光材料

• 典型研究对象：铝酸盐、硅酸盐基长余辉及蓄光材料  

应用领域：

• 长余辉发光材料衰减特性测试

• 蓄光陶瓷及晶体材料性能表征

• 不同配方与工艺样品的余辉性能对比

• 发光材料筛选与研发

• 材料余辉衰减行为研究  

核心优势：

■ 可控脉冲激发 采用 365 nm LED 光源，支持 TTL 控制与功率调节，最大光功率 900 mW。

■ 高灵敏度光电探测 采用光电倍增管（PMT），配备独立高压供电模块，满足发光信号探测需求。

■ 密闭暗室与灵活调节 采用密闭暗室结构，样品台支持三维位置及旋转调节，便于样品定位与光路对准，减少环境杂散光干扰。

■ 余辉衰减曲线记录 记录激发关断后的发光信号变化，为材料余辉衰减特性表征及不同样品的性能对比提供数据依据。

■ 支持光谱测量扩展 可选配 300 mm 焦距 Czerny–Turner 单色仪，在余辉衰减监测基础上扩展波长分辨测量能力。

测试结果示例：

                                                     图1  余辉衰减曲线（理论值）

注：以上曲线及数据均基于假设的双指数衰减模型生成，为理论模拟示例，归一化余辉强度以初始参考信号为基准，仅用于示意发光强度随时间的相对衰减趋势，不代表实际样品测试结果或系统已验证的性能指标。

技术指标：